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同轴光源

采用半透半反分光结构,使光源光线与相机光路严格同轴,垂直照射物体表面。

同轴光源

技术参数

入射角偏差控制在±2°以内
成像清晰度提升约30%

产品特点

  • 同轴分光设计:抑制镜面反射干扰,成像清晰度提升约30%
  • 准直光路:入射角偏差控制在±2°以内,增强微小划痕、凹坑对比度
  • 多波长可选:支持红、绿、蓝、白光,短波蓝光可强化内部缺陷识别

应用场景

  • 芯片引脚平整度检测
  • Mark点定位
  • 金属/玻璃等高反光材质缺陷识别
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